1．引言

A／D转换芯片(以下简称A／D)的作用是将模拟信号转换为数字信号，被广泛应用于控制领域。对A／D的测试分为静态参数测试及动态参数测试。 本文涉及的是静态参数洲试。A／D的静态参数测试系统主要由数字部分和模拟部分绀成。数字部分的作用是对A／D提供控制信号及捕获转换后的数字量，要求有足够的向量深度并能够提供灵活复杂的时序。模拟部分的作用是对D／A提 高精度低噪声的模拟信号和参考电压。其测试系统的结构框图如图1。

对A／D进行测试必须意识到A／D的“多对一”的特性，也就是说当对A／D激励一些量值不同的模拟信号(这些信号量值虽然不同但差值较小)时，输出的数字信号却可能是相同的。A／D的这种“多对一”的特性就导致A／D的测试框架不同于传统的测试框架，即给定一个激励信号，只要测出相应的输出信号即可。在对A／D测试时我们必须找到那个使输出信号发生变化的激励信号，获得这些激励信号后我们才对它们进行计算，得到诸如偏置、增益、线性特性这些参数值。在测试中我们将这些激励信号的值称为转换值，图2是一个理想8位A／D的转换值示意图。

因为A／D输出是一组数码，所以没有任何的输出电压需要测试。在测试A／D时，激励A／D的应是连续增长的模拟信号，当A／D将模拟输入转换成数字输出时，应对模拟输人一直进行监测，当A／D的数字输出发生变化、达到期望的数码时，监测出此时的模拟信号值，这个值就是转换值。

在图2可以看到两个特殊的转换值：VZST和VFST，做如下定义：

VFST是使数字输出i从仅次于最大值的值变为最大值时的模拟值。

VZST是使数字输出i从0变为1时的模拟值。

这两个转换值在计算分辨率(LSB)和满幅电压范围(FSR)时是很有意义的。

在图2中可以看到对于一个n位的A／D有2n个输出数码，有2n-1个转换值，在VZST和VFST之间有2n-2个输出数码。

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