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基于温度补偿的1V CMOS电流基准源
 
作者:朱冬勇,杨银堂,朱樟明,朱文举,徐俊平   来源:《半导体技术》    点击数:131   更新时间:2008-6-19
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    0 引言

随着亚微米、深亚微米技术和系统芯片(SOC)技术的日益成熟,便携式电子和微型电子产品快速发展和普及,低电压工作环境下的芯片研发日益受到关注。电流基准源是模拟集成电路中最重要的模块之一,广泛应用于数模、模数转换器、滤波器和单片式传感器中,因此,低压、低功耗、高精度、稳定的电流基准源的设计成为模拟IC设计的热点。


目前,国外很多电流基准源的电源电压达到1V甚至更低。文献[1-2]分别用本征MOS管和SIMOX工艺实现低压下的电流基准源,但文献[1]的电源电压高、基准电流温度系数比较大;文献[2]的基准电流温度系数比较小,但不是普通的CMOS工艺,结构复杂,功耗大;文献[3]虽然在1.1 V电源电压下的功耗很小,但是工作温度范围比较小、温度系数很大。所以设计的难点就是要在普通CMOS工艺下实现低压、低功耗且结构简单的高性能电流基准源。


1 零温度系数偏置点


文献[4]证实了很多的CMOS工艺存在零温度系数偏置点,由于零温度系数偏置点的存在,可以通过在MOS管栅极加一个不随温度变化的偏置电压,得到相应的不受温度影响的电流基准,如图1所示。







根据MOS管平方律公式,NMOS管漏电流为







式中:μn是M0管载流子迁移率;Cox为氧化层电容;VTH0为M0的阈值电压。在公式(1)中,只有μn和VTH0是和温度有关的量。根据文献[5],阈值电压可以表示为







把式(2)、(3)代人式(1),和温度相关的电流基准源IREF可以表示成







可以看出,载流子迁移率的温度相关性和阈值电压的温度相关性正好互相补偿,抵消了温度对它们的作用。在TSMC 0.25 μm标准工艺条件下,宽长为16 μm和8μm时,MOS管不同温度下的跨导特性如图2所示。由图可知,MOS管在点(VZTC,IZTC)时,它的跨导特性几乎不受温度的影响。此时NMOS管ZTC点相应的电流为19.1 μA,电压为765.3 mV,PMOS管ZTC点的电流为-12.3μA,电压为-1.13 V。由于PMOS ZTC点的电压值超过了所能提供的电源电压,所以本文采用NMOS管来产生基准电流。












2 低压温度补偿电压基准电路


2.1 带隙基准电路结构


基于TSMC 0.25 μm CMOS工艺,采用一级温度补偿、电流反馈技术设计的低压带隙基准电路如图3所示,其工作原理与传统的带隙基准电路相似。为了与CMOS标准工艺兼容,采用PNP管的集电极接地结构。低压钳位运放使a、b两点的电压相等。设置Ma1、Ma2、Ma3管的宽长比使它们的电流关系为







Q2和Q1的发射极面积的比为N,R2=R3,流过Q1和Q2的电流相等,△VBE等于VT?ln(N)。流过电阻R1的电流为







选取合适的电阻比值使电压基准不受温度影响,调节m和R4来调节基准电压的大小,得到合适的值。


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